掃描電子顯微鏡主要用于觀察什么?掃描電鏡有哪些特點(diǎn)?下面澤攸科技小編就為大家講解一下。掃描電子顯微鏡（SEM）是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)。掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。
 
從原理上講，掃描電子顯微鏡（SEM）是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。
 
掃描電子顯微鏡（SEM）可以直接觀察觀察納米材料，進(jìn)行材料斷口的分析，直接觀察原始表面等。
 
掃描電子顯微鏡（SEM）的特點(diǎn)
 
　　和光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電子顯微鏡（SEM）具有以下特點(diǎn)：
　　(一)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
　　(二) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。
　　(三) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，因此，可以從各種角度對樣品進(jìn)行觀察。
　　(四) 景深大，圖象富有立體感。掃描電子顯微鏡（SEM）的景深較光學(xué)顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
　　(五) 圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學(xué)顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學(xué)顯微鏡與透射電鏡之間，可達(dá)3nm。
　　(六) 電子束對樣品的損傷與污染程度較小。
　　(七) 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發(fā)出的其他信號作微區(qū)成分分析。

ZEM臺式掃描電鏡

 
以上就是澤攸科技小編講解的掃描電子顯微鏡（SEM）主要用于觀察的介紹，還有掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)，想了解更多請咨詢