臺式掃描電鏡（SEM）是一種利用高能電子束與樣品相互作用所得到的信號來觀察和分析樣品表面形態、結構和成分的高分辨率顯微技術。下面是掃描電鏡各功能的用途：

表面形貌觀察：利用掃描電鏡可以觀察到樣品表面的形貌、結構、紋理等特征，從而了解材料的表面形貌。

成分分析：可以通過能譜分析（Energy Dispersive X-ray Spectroscopy，EDS）的技術，對樣品進行元素成分分析。EDS可以確定樣品中的元素種類和含量。

結構分析：可以通過退火、腐蝕、切片等樣品制備方法，觀察材料的內部結構和組成，從而了解材料的結構特征。

形貌和成分分析：可以結合EDS技術，同時觀察樣品的形貌和成分，從而了解材料的形貌和組成特征。

表面和界面分析：可以觀察材料的表面和界面結構，從而了解材料的表面和界面性質。

晶體學分析：可以觀察材料的晶體結構和晶粒形貌，從而了解材料的晶體學性質。

動態觀察：可以對材料進行實時動態觀察，觀察材料在不同溫度、壓力、電場等條件下的表現。

臺式掃描電子顯微鏡

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