掃描電鏡是一種利用電子束來對樣品表面進行高分辨率成像的儀器。探針電流和探針尺寸是影響SEM成像效果的重要參數。

探針電流：

影響： 探針電流直接影響掃描電鏡中電子束的強度。較大的電流可以提供更多的電子，使得成像信號更強，但也可能導致樣品表面的充電效應增加。

優勢： 大電流下，成像信號強，適用于快速成像和獲取高分辨率圖像。

注意： 過大的電流可能損傷樣品，特別是對于生物樣品等較為敏感的樣品。

探針尺寸：

影響： 探針尺寸是指電子束的直徑，即聚焦后的尺寸。較小的探針尺寸可以提供更高的分辨率，但也可能導致成像信號減弱。

優勢： 小探針適用于對細小結構的高分辨率觀察。

注意： 過小的探針可能導致較長的成像時間，而且在非理想條件下可能導致成像不穩定。

ZEM20臺式掃描電鏡

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