在掃描電鏡（SEM）中進行低溫樣品成像（也稱為冷凍SEM或Cryo-SEM）可以有效保留樣品的原始結構和水分狀態(tài)，尤其適用于生物樣品、聚合物和其他對溫度敏感的材料。以下是詳細的步驟和方法來進行低溫樣品成像：

1. 樣品制備

快速冷凍

高壓冷凍：使用高壓冷凍儀將樣品迅速冷凍至液氮溫度（-196°C）以下，以防止冰晶形成。

浸入冷凍：將樣品快速浸入液氮或液氦中冷凍。

樣品固定

固定樣品：將冷凍的樣品固定在冷凍樣品架上，確保樣品與樣品架緊密接觸，減少熱傳導。

樣品處理（可選）

冷凍斷裂：對于需要觀察內部結構的樣品，可以進行冷凍斷裂處理。在冷凍狀態(tài)下將樣品劈開，暴露出內部結構。

冷凍替換：用有機溶劑（如丙酮或甲醇）替換樣品中的水分，然后冷凍干燥。這種方法可以減少冰晶形成，適合某些特殊樣品。

2. 低溫轉移

冷凍轉移系統(tǒng)

使用冷凍轉移系統(tǒng)：將冷凍樣品從冷凍裝置轉移到SEM的冷凍樣品室中。冷凍轉移系統(tǒng)通常包括冷凍樣品盒和冷凍轉移桿，確保樣品在低溫環(huán)境下轉移，避免升溫和冰晶形成。

3. 冷凍SEM系統(tǒng)設置

安裝冷凍樣品室

冷凍樣品室：安裝冷凍樣品室或冷凍臺在SEM中，確保樣品在低溫條件下成像。冷凍樣品室通常帶有冷卻裝置，可以保持樣品在低溫環(huán)境中。

低溫成像設置

溫度控制：在SEM控制面板中設置冷凍樣品室的溫度，通常在-150°C到-190°C之間。確保樣品在整個成像過程中保持低溫。

真空度控制：調整SEM樣品室的真空度，適應低溫環(huán)境下的樣品觀測。

4. 成像和數(shù)據(jù)采集

低加速電壓和低束流

低加速電壓：使用低加速電壓（通常在1-5 kV之間）減少電子束對冷凍樣品的損傷。

低束流強度：減少束流強度，避免高能電子束對樣品的加熱和損傷。

實時監(jiān)控

實時監(jiān)控：在成像過程中實時監(jiān)控樣品溫度和真空度，確保樣品始終處于低溫狀態(tài)。

成像和數(shù)據(jù)采集

高分辨率成像：在低溫條件下進行高分辨率成像，獲取樣品的詳細結構信息。

圖像保存：保存和記錄成像數(shù)據(jù)，確保數(shù)據(jù)的完整性和可靠性。

5. 后處理和維護

樣品后處理

樣品儲存：完成成像后，將樣品儲存在低溫環(huán)境中，防止升溫和結構變化。

樣品處理：根據(jù)實驗需要，對樣品進行進一步處理或分析。

設備維護

定期檢查：定期檢查和維護冷凍SEM系統(tǒng)，包括冷凍樣品室、冷卻裝置和真空系統(tǒng)，確保設備正常運行。

清潔設備：定期清潔冷凍樣品室和樣品轉移系統(tǒng)，防止污染和損壞。

以上就是澤攸科技小編分享的如何在掃描電鏡中進行低溫樣品成像的介紹。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢