掃描電鏡（SEM）對樣品表面粗糙度的敏感度較高，尤其在觀察較小的細節(jié)和表面特征時。其敏感度主要體現在以下幾個方面：

圖像分辨率：掃描電鏡的分辨率通常可以達到納米級別，能夠捕捉到表面微小的起伏和不規(guī)則性。因此，樣品表面的微觀粗糙度會直接影響到圖像的清晰度和細節(jié)呈現。

電子束與表面相互作用：當電子束照射到樣品表面時，樣品的粗糙度會影響電子的散射與反射情況。粗糙的表面可能會導致電子束的散射效應增強，從而影響信號的收集和成像質量。表面較平滑的區(qū)域可以產生更加清晰的圖像，而粗糙的區(qū)域可能導致圖像模糊或失真。

信號強度和質量：表面粗糙度較大的樣品區(qū)域，可能會導致二次電子（SE）和背散射電子（BSE）信號的變化，從而影響圖像的對比度和亮度。粗糙表面可能會減弱或改變信號的強度，影響成像效果，尤其是在對比度較高的區(qū)域。

成像模式的選擇：在掃描電鏡中，采用不同的成像模式（如二次電子成像模式、背散射電子成像模式等）時，樣品表面的粗糙度也會影響圖像的呈現。例如，二次電子模式通常對表面粗糙度較為敏感，能夠提供更多的表面細節(jié)信息，但過于粗糙的表面可能會導致信號噪聲增大，影響圖像質量。

深度分辨率與粗糙度：粗糙表面可能導致成像過程中產生深度分辨率問題。在高放大倍率下，粗糙表面可能產生更強的立體效果，使得樣品的不同高度區(qū)域之間的對比更加明顯，但同時也可能導致焦點的變化，影響成像清晰度。

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