掃描電鏡（SEM）的電子束可能對樣品造成損傷，具體影響如下：

熱損傷

電子束的能量會使樣品局部升溫，可能導致熱敏感材料熔化或分解。

電荷積累

非導電樣品可能積累電荷，產生靜電效應，影響成像質量，甚至損壞樣品。

輻射損傷

高能電子束可能破壞化學鍵，導致聚合物等材料的結構變化或分解。

質量損失

電子束轟擊可能使樣品表面原子或分子脫離，造成質量損失，尤其是對有機或生物樣品。

結構變化

電子束可能導致晶體結構改變或相變，影響材料性質。

減輕措施

降低加速電壓：減少電子束能量。

減小束流：降低束流密度。

使用冷卻裝置：減少熱損傷。

樣品涂層：對非導電樣品進行導電涂層處理。

電子束可能對樣品造成熱損傷、電荷積累、輻射損傷、質量損失和結構變化，但可通過調整參數和采取防護措施減輕這些影響。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的電子束對樣品是否有損傷的介紹。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢