掃描電鏡中的樣品邊緣效應，是指在樣品邊緣或尖角附近出現亮度增強、對比異常或信號畸變的現象。其形成主要源于局部電場、束流分布和表面幾何結構的共同影響。

掃描電鏡樣品邊緣效應的形成原因

電子束在尖角處更易散射與逃逸

邊緣區域曲率小，表面傾角大，二次電子更容易從邊緣逸出，因此在圖像上表現為明顯增亮。

電場集中導致二次電子產額升高

邊緣位置會形成局部電場增強，使得電子束更容易激發高能二次電子，造成過亮或泛白。

束流撞擊角度改變

在邊緣，電子束入射角增大，更有利于產生二次電子和背散射電子，從而提高信號強度。

樣品幾何導致的信號收集偏差

邊緣區域的信號更容易直接被探測器接收，導致探測效率局部升高。

絕緣樣品邊緣更容易積累電荷

邊緣處受電荷集中影響更強，可能產生局部過亮、條紋或噪點，但本質上也是邊緣效應的表現之一。